HAST（高壓加速老化試驗(yàn)箱，Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test）的96小時(shí)測(cè)試與雙85測(cè)試（85℃/85%RH，1000小時(shí)）是兩種典型的加速老化試驗(yàn)方法。

1. 核心差異速覽

2. 選擇決策樹(shù)

產(chǎn)品是否密封？

是 → 選 雙85測(cè)試（避免HAST高壓破壞封裝）。

否 → 進(jìn)入下一步。

時(shí)間是否緊迫？

是 → 選 HAST 96小時(shí)（快速驗(yàn)證，4天出結(jié)果）。

否 → 進(jìn)入下一步。

關(guān)注失效類型？

電化學(xué)腐蝕/界面問(wèn)題 → 選 HAST。

吸濕膨脹/長(zhǎng)期老化 → 選 雙85。

預(yù)算是否充足？

是 → HAST（高壓設(shè)備投入）。

否 → 雙85（低成本長(zhǎng)期測(cè)試）。

注意事項(xiàng)

HAST風(fēng)險(xiǎn)：避免用于氣密性封裝，高壓可能引發(fā)非真實(shí)破裂。

雙85局限：無(wú)法加速電化學(xué)腐蝕，需結(jié)合其他測(cè)試查漏。

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱用 途：

主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCT主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體。

技術(shù)特點(diǎn)：

◆ 真空泵浦設(shè)計(jì)(鍋爐內(nèi)空氣抽出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性；

◆ 超長(zhǎng)效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)300小時(shí)；

◆干燥設(shè)計(jì)，試驗(yàn)終止采真空干燥設(shè)計(jì)確保測(cè)試區(qū)(待測(cè)品)的干燥；

◆ 水位保護(hù)，透過(guò)爐內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù)；

◆ 耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測(cè)試6k；

◆二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置；

◆ 安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕；

HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格：